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XJTAG Expert ADF-2 Datenblatt

XJTAG Expert ADF-2
XJTAG Expert ADF-2

XJTAG Expert ADF-2 ist das weltweit erste portable Boundary Scan-Testsystem, das über ein integriertes digitales Oszilloskop, einen Waveform- und Funktionsgenerator, Spektrum-Analyser und einen seriellen Protokoll-Analyser verfügt. Das Gerät wird über eine USB 2.0-Schnittstelle an einen PC oder Laptop angeschlossen, um elektronische Geräte (Unit Under Test) zu testen oder in Betrieb zu nehmen.
Diese Kombination von Funktionen in einem Gerät macht es zum idealen Hilfsmittel für Entwickler bei der Inbetriebnahme von elektronischen Geräten.

Beim Bring-up eines Prototypen geht ein Entwickler schrittweise vor, indem er Teile der Schaltung nacheinander in Betrieb nimmt und deren Funktion der Reihe nach testet. Hierzu benötigt er neben einem Oszilloskop auch einen Funktions- oder Waveform-Generator, um nicht vorhandene Eingangssignale zu ersetzen.

Netzlisten per JTAG prüfen

Zur Untersuchung der Hardware wird immer häufiger das Boundary-Scan-Verfahren verwendet, indem über die JTAG-Schnittstelle interne Verbindungschecks ausgeführt werden können und so ein Großteil der Netzliste geprüft werden kann. Zusätzlich lässt sich über die Boundary-Scan-Schnittstelle ein Code in programmierbare Bausteine laden.
Was bisher nur mit verschiedensten Geräten möglich war lässt sich mit dem XJTAG Expert ADF-2 und einem Laptop an jedem Schreibtisch durchführen.

Technische Details

Boundary Scan Features

- Kompatibel zu XJLink2
- bis zu 4 TAP-Verbindungen zur UUT
- USB-Stromversorgung ohne Netzteil
- Bis zu 166 MHz TCK-Frequenzen
- Schnelle Flash Programmierung
- Integrierte Spannungsmessung (0-5 V) an jedem Pin

Digitales Oszilloskop

- 2 Kanäle
- 200 MHz Bandbreite
- 128 MSample Pufferspeicher
- 8 Bit Auflösung
- Externer Trigger
- Überlastungsschutz ±100 V

Spectrum Analyser

- Frequenzgang DC - 200 MHz
- Anzeigen: Magnitude, average, peak hold
- Fensterfunktionen: Rectangular, Gaussian, triangular, flat-top, Blackman, Blackman-Harris, Hamming, Hann
- FFT-Punkte: von 128 bis 1 Million wählbar
- Frequenzbereichs-Messungen: THD, THD+N, SNR, SINAD etc.

Funktions-Generator

- Signale: Sinus, Rechteck, Dreieck, Rampe, Rauschen etc.
- Frequenz: DC bis 1 MHz
- Genauigkeit: ±50 ppm
- Auflösung: kleiner 0,01 Hz
- Überlastungsschutz ±100 V

Waveform-Generator

- 8 KSample Speichergröße
- 20 MHz update Rate
- Bandbreite 1 MHz
- 12 Bits Auflösung
- Anstiegszeit (10%-90%): 100 ns

Serieller Protokoll-Analyser

- CAN bus, I2C, SPI, RS232, UART
- Multiple format views
- Frame-Filterung und Suchoption
- Hex-Daten als Text-Export