Stress-Analyse und Stress-Derating mit CARE PCB

Während früher eine hohe Zuverlässigkeit durch Einfachheit und hohe Materialreserven erzielt werden konnte, führt diese Strategie bei heutigen Produkten - unter Berücksichtigung wirtschaftlicher Gesichtspunkte - nicht mehr zum Ziel. Die Zuverlässigkeit eines Gerätes wird im wesentlichen in der Entwurfs- und der frühen Entwicklungsphase festgelegt. In den Phasen Fertigung und Einsatz ist eine Verbesserung der Zuverlässigkeit in den Produkten nicht mehr möglich. Maßnahmen zur Zuverlässigkeitsabsicherung müssen deshalb in einem sehr frühen Entwicklungsstadium eingesetzt werden.

Dazu gehören:
- der Einsatz von qualifizierten Bauelementen
- eine systematische Suche nach Schwachstellen der Zuverlässigkeit und deren Beseitigung

CARE® PCB ermöglicht es, einfach und effektiv, die Betriebssicherheit ihres Produktes zu untersuchen u. zu optimieren. Ein Werkzeug für die Zuverlässigkeitsberechung, das alle möglichen Fehler u. deren Auswirkungen auf das Layout bzw. Systemverhalten aufzeigt. Mit der Hilfe von CARE besteht die Möglichkeit zuverlässigere Systeme, mit kosteneffizienter Hardware, durch Verkürzung des Entwicklungszyklus und der Entwicklungszeit zu entwickeln. Kritische Bereiche werden sehr früh erkannt. Somit können bereits in der Design Phase, d.h. vor dem Layout, Fehlfunktionen gefunden u. beseitigt werden. Um Systeme mit hoher Verfügbarkeit zu entwerfen, zeigt CARE die optimale Hardwarekonfiguration die erforderlich ist, um die höchste Verfügbarkeit bei minimalen Hardwarekosten zu erreichen.

Durch die Integration in ihre vorhandene Designumgebung u. die Anbindung an alle gängigen CAD/CAE Systeme, biete CARE PCB quasi "on the fly" eine Aussage über alle potentiellen Designfehler u. deren Auswirkung auf die Zuverlässigkeit.



Module für die Zuverlässigkeitsberechnung:
MTBF (Mean Time Between Failure)
MRS Mechanical Reliability Simulation)
Stress Calculator
SDTA (Stress De-rating & Thermal Analysis)
FMEA (Failure Mode Effects Analysis)
FMECA (Failure Mode Effects & Criticality Analysis)
TA (Testability Analyse)
FTA (Fault/Event Tree Analysis)
MTTR (Mean Time to Repair)
RBD (Relaibitiy Block Diagramm)